寿命测试哪一种方案具有优势?

2020-10-19 浏览次数:350

寿命测试哪一种方案具有优势?


荧光寿命的测试,也就是TRPL,测试方法常见的两种就是时域法(TCSPC)和频域法(FD),显然国内的文献中TCSPC更常见。TCSPC和DFD没有本质的差别。

如果样品的寿命范围在100ns~10μs,选择TCSPC和DFD都可以,如果是ns~s,DFD法更好,一套硬件就可以测大范围的寿命,并且测试速度快。

早起,相调制法是较早用于荧光寿命测试的方法,但是由于FD法使用模拟调制,可调制的频率有限,所以设备的实用性没有TCSPC法应用广泛,随着数字频域法(DFD)的成熟,可以调制各种需要的频率,可测试的寿命范围大大的得到扩展,所以应用我越来越多。

早期,因为FD法不如TCSPC灵活,并且TCSPC是单光子技术,所以有更好的灵敏度和分辨率,这使得TCSPC迅速的走进了**各个实验室。同事,因为TCSPC是单光子技术的原理,所以必须要求测试必须在弱光下进行以避因免光子累计效应导致的寿命普遍较理论值偏小,也是因为同原因,一个激发周期只能收集一个光子,所以TCSPC的效率低,测试会更耗时,特别是**命的样品。

数字频域法或者相调制法仅仅是时间相关单光子计数法的傅里叶变换的数学表达,两者本质原理无异。但是由于调制激发光后,激发以正弦波或者余弦波的形式表达,所以在测试的过程只需要得到相位Φ和调制比M就可以测得寿命值,这种方法就不要求光是弱光,所以光子计数率高,动态范围大,测试寿命范围宽,速度快。



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