宁波灯具寿命测试项目介绍

不仅仅是运行时间
 在设计器件时，设计需要查看更多的测试结果，才能更加深入地了解耗尽测试期间发生的情况。通过绘制电压和电流与时间的关系图，他们可以更清楚地掌握电池耗尽的情况。
 为了测量流经电池和器件的电压和电流，测试仪通常需要具备以下组件：
图1：电池耗尽测试结果
2 个数字万用表（DMM）
2 通道数据记录仪或 2 通道数字化仪

MTBF推算方法
    由MTBF定义可知,规定产品在总的使用阶段累计工作时间与故障次数的比值为MTBF, 指数(Exponential)分布是可靠度統計分析中使用普遍的机率分布.指数分布之MTBF数值为失效率λ的倒数,故一旦知道λ值,即可 由可靠度函数估算产品的可靠度。
          MTBF= Total Operating(Hrs)/Total Failures
    在常规的试验条件要测试出产品的MTBF时间需要耗时较久，且需投入大量的金钱与时间，由此可在实验室里以加速寿命的试验方，在物理与时间上加速产品的劣化原因，以较短的时间试验来推定产品在正常使用状态的寿命或失效率，但基本条件是不能破坏原有设计特性。

MTBF即平均无故障时间，英文全称是“Mean Time Between Failure”。是衡量一个产品（尤其是电器产品）的可靠性指标。单位为“小时”。它反映了产品的时间质量，是体现产品在规定时间内保持功能的一种能力。具体来说，是指相邻两次故障之间的平均工作时间，也称为平均故障间隔。它仅适用于可维修产品,同时也规定产品在总的使用阶段累计工作时间与故障次数的比值为MTBF，

人工加速光老化试验：氙弧灯老化试验（ASTM G155，ASTM D4459，ASTM D2565，ASTM D6695，ISO 4892-2，ISO 11341，ISO 105-B02，ISO 105-B04，ISO 105-B06，ISO 4665， ISO3917，GB/T 1865，GB/T 16422.2, SAE J2412，SAE J2527等）  氙灯测试(高辐照度试验（ASTM G155, NES M0135中1-2-1A，2-2-1，NES M0141等）  荧光紫外灯老化试验（ASTM G154，ASTM D4329，ASTMD499，ASTM D5208，ASTM D4587，ISO 4892-3，ISO 11507，SAE J2020，GB/T 16422.3，GB/T 14522等）  金属卤素灯老化试验（DIN 75220，IEC 60068-2-5，ISO 9022-9，ISO 12097-2，MIL STD810F等）  红外灯老化试验（NES M0131，PV2005 等）  阳光碳弧灯老化试验箱（GB/T 16422.4、ISO 4892-4、ASTM G152、JIS B7753 、JIS D0205等）  紫外碳弧灯老化试验箱（JIS L 0842 2004、AATCC 16 方法1、JIS A 1415 1999，TSL 0601G等）
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